Новый метод позволяет быстро найти нанодефекты в материалах. Это улучшит телефоны и солнечные батареи

Ученые из Канады придумали, как они могут найти небольшие дефекты в оптических детекторах и волоконной оптике. Теперь это можно сделать почти мгновенно.

Группа исследователей из Университета Макгилла разработала новую методику нахождения наноразмерных дефектов в материалах. Они считают, что это открытие приведет к улучшению оптических детекторов (используются в фотоаппаратах и телефонах) и волоконной оптики (в солнечных батареях).

Исследователи использовали атомно-силовую микроскопию для обнаружения сверхбыстрых сил, возникающих при взаимодействии света с материей. Они показали, что силы, возникающие в результате двух импульсов света с задержкой по времени, могут быть обнаружены с суб-фемтосекундной точностью (это миллионные доли миллиардной доли секунды).

Это свойство можно использовать для улучшения дефектов, которые трудно обнаружить из-за их размера. Кроме того, без этого подхода было очень сложно выявить и изучить слабые места материалов, которые могут замедлять или препятствовать световым индуцированным процессам, потому что традиционные методы обнаружения дефектов используются на больших площадях.

«Новая технология применима к любым материалам — металлам, полупроводникам или изоляторям. Она позволит использовать высокое пространственно-временное разрешение для изучения, понимания и, в конечном счете, улучшения материалов. В будущем это улучшит сразу весь спектр технологий», — отметили исследователи.